ULTRA

帶電粒子檢測(cè)器光譜學(xué)的標(biāo)準(zhǔn)。

?超薄入口觸點(diǎn)，可實(shí)現(xiàn)最佳能量分辨率。

?由于緊密的檢測(cè)器到罐間距，因此具有很高的幾何效率。

?堅(jiān)固可靠。

?鍍金罐，可終身使用。

?先進(jìn)的表面鈍化技術(shù)可確保整個(gè)設(shè)備的穩(wěn)定性。

?ORTEC的質(zhì)量和可靠性。

?可在高達(dá)200°C的溫度下烘烤（需要特殊訂購(gòu)）。

用于α光譜的低背景版本。

用于α和β光譜的ULTRA離子注入硅檢測(cè)器最多

曾經(jīng)生產(chǎn)過(guò)先進(jìn)的帶電粒子探測(cè)器。他們擁有的可靠性

使ORTEC成為NASA太空應(yīng)用硅探測(cè)器的唯一供應(yīng)商。

入口和背面觸點(diǎn)均被離子注入。入口聯(lián)系人是

極?。?500?）的硼注入。硅表面與

安裝罐的頂部小于1毫米，可提供最大的幾何效率。前方

可以使用蘸有溶劑的棉簽輕松清潔觸點(diǎn)。

ULTRA探測(cè)器具有鍍金的安裝罐。黃金永遠(yuǎn)不會(huì)氧化的優(yōu)越電導(dǎo)率使其成為首選

不銹鋼或鋁。覆蓋關(guān)鍵二氧化硅層的先進(jìn)表面鈍化技術(shù)可確保絕對(duì)的設(shè)備穩(wěn)定性。

極低的泄漏電流允許指定1 μs放大器整形時(shí)間常數(shù)下的能量分辨率。

低背景ULTRA-AS檢測(cè)器由特殊的低背景材料制成，并具有優(yōu)化的耗盡厚度，可最大程度地減少

宇宙射線的背景計(jì)數(shù)。所有ORTEC Alpha光譜儀（Alpha Aria，Alpha Duo和Alpha Ensemble）都配備有

ULTRA-AS探測(cè)器或R系列堅(jiān)固型表面屏障探測(cè)器。所有這些光譜儀配備450 mm2的檢測(cè)器時(shí)，均具有一個(gè)

在3-MeV到8MeV的能量范圍內(nèi)，保證的背景性能每天≤24個(gè)計(jì)數(shù)。

ULTRA和ULTRA-AS檢測(cè)器安裝罐的尺寸與相應(yīng)尺寸的A或R系列檢測(cè)器的尺寸相同

確保ULTRA檢測(cè)器可以完美地適合現(xiàn)在使用A或R系列檢測(cè)器的任何應(yīng)用。

*有關(guān)檢測(cè)器和腔室清潔度的廣泛關(guān)注可能導(dǎo)致本底計(jì)數(shù)水平低至有效區(qū)域0.05個(gè)計(jì)數(shù)/小時(shí)/平方厘米，

450平方毫米的活動(dòng)區(qū)域?qū)?yīng)于6個(gè)計(jì)數(shù)/ 24小時(shí)。

** ULTRA系列探測(cè)器需要正偏置電壓。 R系列探測(cè)器需要負(fù)極性偏置。